安捷倫Agilent 4268A電容測(cè)試儀
4268A 電容測(cè)試儀對(duì)大數(shù)值陶瓷電容器測(cè)試有恒定不變的測(cè)試電平
·高速測(cè)量:25ms
·快速接觸檢查
·9倉室比較器
Agilent 4268A電容測(cè)試儀能以恒定的高電平測(cè)試信號(hào)高速測(cè)量大數(shù)值的多層陶瓷電容器
(MLCC)。恒定測(cè)試電平功能允許在1kHz、1Vrms條件下對(duì)直到70μF的MLCC進(jìn)行測(cè)試,并符
合IEC384-10標(biāo)準(zhǔn)。120Hz測(cè)量能對(duì)達(dá)600μF提供恒定1V測(cè)試信號(hào)。4268A可以在25ms內(nèi)提供
被測(cè)值及比較器結(jié)果,使MLCC生產(chǎn)線有zui高測(cè)試效率。
4268A 電容測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量參數(shù) | Cs,Cp,D,Q,Rs,Rp,G |
測(cè)試頻率: | 120Hz和1kHz |
測(cè)試信號(hào)電平: |
0.1~1Vrms,±10%以0.01 Vrms步進(jìn) |
測(cè)量范圍: |
測(cè)量參數(shù)120Hz1kHzC0.01nF~939999mF0.0001nF~999.99μFD0.001~9.99990.0001-~9.9999
|
恒定測(cè)試電平范圍(典型值) |
測(cè)試電壓120Hz1kHz0.5VrmsC≤1200μFC≤140μF1VrmsC≤600μFC≤70μF
|
測(cè)量時(shí)間: | 25ms/45ms/60ms(典型值) |
接觸檢查: | 在5ms內(nèi)以4端連接探測(cè)接觸故障 |
比較器: | 9倉室輸出至處理器接口 |
接口: | 處理器,GPIB和供***的掃描器接口 |
一般技術(shù)指標(biāo):
電源要求: | 90V-132V或198-264V,47-66Hz,100VAmax |
工作溫度/濕度: | 0°~45℃,在40℃時(shí)相對(duì)濕度≤95% |
尺寸: | 320mm(寬)*100mm(寬)*450mm(長(zhǎng))(12.6英寸*3.94英寸*17.72英寸) |
重量: | 約5kg |
主要技術(shù)資料:
4268A電容測(cè)試儀產(chǎn)品介紹,p/n 5967-5873
訂貨信息
·4268A 120Hz/1kHz電容測(cè)試儀
Opt 001掃描器接口
可提供的附件
16044A 用于片狀元件的四端測(cè)試夾具
16034E 片狀元件測(cè)試夾具
16033A 鑷子型測(cè)試夾具
16048A 測(cè)試引線,BNC(1m)
16048B 測(cè)試引線,SMC(1m)
16048D 測(cè)試引線,BNC(1m)
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